龙8

　　IT之家 3 月 5 日动静，日立本地时间 2 月 27 日称该企业已开辟出了一种高活络度半导体缺陷检测手艺。

　　图像沉建对比：检测系统起首通过大量添加噪点的“人制”缺陷图像进修微缺陷的数据特征；现实利用时对扫描电镜照片尽量进行无缺陷版本沉建，并对原始图像和沉建图像进行对比，从而检出缺陷。

　　过度检测：因为先辈半导体系体例程的微缩，而机械进修检测系统可对电结构进行分类，可削减 90% 的过度检测。